奧譜天成基于深厚的光譜技術(shù)積淀，正式推出新一代ATP3330及ATP5330系列制冷型超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀。該系列產(chǎn)品采用獨特的M型光路設計，并融合了TEC熱電制冷技術(shù)，將微型光譜儀的性能推向了一個新的高峰，旨在滿足各類苛刻的高分辨率光譜分析需求。

核心技術(shù)亮點：高分辨率與高信噪比

該系列產(chǎn)品的核心競爭力源于其兩項核心技術(shù)：M型光路結(jié)構(gòu)與可選探測器制冷方案。

• M型光路與超高分辨率：與傳統(tǒng)光路相比，優(yōu)化后的M型光路結(jié)構(gòu)在同樣緊湊的體積內(nèi)，實現(xiàn)了更高的光通量與色散效率，從而賦予了光譜儀極1致的分辨能力。其分辨率可達0.05nm，能夠清晰分辨極其接近的 spectral features，為精密分析奠定了堅實基礎。

• TEC制冷技術(shù)與優(yōu)異信噪比：該系列提供了制冷與非制冷的靈活配置。其中，ATP5330子系列采用了精密的TEC電制冷技術(shù)，可將探測器核心溫度穩(wěn)定控制在-5℃（ATP5330P更可達-10℃）。這種主動制冷方式能顯著降低探測器的暗電流和本底噪聲，其直接效益是大幅提升了光譜儀的動態(tài)范圍和信噪比。這意味著在測量微弱信號時，能夠獲得更清晰、更純凈的光譜數(shù)據(jù)，同時增強了設備在環(huán)境溫度波動下的測量穩(wěn)定性與可靠性。

靈活型號配置，滿足多元需求

為精準覆蓋不同應用場景與預算，該系列提供了豐富的型號選擇，核心區(qū)別在于制冷技術(shù)與探測器像素：

用戶可根據(jù)對分辨率（像素數(shù)）和信噪比（制冷）的具體要求，選擇最合適的型號。特別是ATP5330P，采用背照式CCD技術(shù)，具有更高的量子效率，使其在極弱光探測中表現(xiàn)尤為出色。

詳盡產(chǎn)品特征與便捷集成設計

• 光學性能：覆蓋200-1100nm的寬光譜范圍，分辨率在0.05nm至3nm之間可調(diào)，采用非交叉C-T光路，結(jié)構(gòu)穩(wěn)定。

• 探測系統(tǒng)：配備2048或4096像素的高靈敏度探測器，配合16位高精度ADC，確保數(shù)據(jù)采集的豐富性與準確性。

• 操作與集成：積分時間范圍寬廣，從0.1毫秒到256秒，既可捕捉高速動態(tài)過程，也能累積極弱光信號。供電設計簡便，ATP3330僅需5V直流或USB取電；ATP5330系列需額外5V電源。數(shù)據(jù)接口采用現(xiàn)代化的USB Type-C，傳輸穩(wěn)定高效，并預留了20針擴展接口，支持功能定制與二次開發(fā)。

• 輸入輸出：支持SMA905光纖輸入和自由空間光輸入，兼容性強，便于集成到各種光學系統(tǒng)中。

廣泛的應用領域

憑借其超高分辨率、低噪聲及高可靠性等特性，ATP3330/ATP5330系列已成為眾多前沿科研與工業(yè)分析領域的理想工具：

• 高級科研分析：適用于LIBS（激光誘導擊穿光譜）、等離子體發(fā)光檢測、拉曼光譜檢測等，需要高分辨率來分辨精細光譜結(jié)構(gòu)的場景。

• 光源特性監(jiān)測：用于激光器、LED等發(fā)光元件的波長、光譜形狀及穩(wěn)定性的精確監(jiān)測與分選。

• 環(huán)境與品質(zhì)檢測：集成于水質(zhì)分析儀、LED分選機、顏色檢測設備以及反射、透射光譜檢測系統(tǒng)中，提供精準的數(shù)據(jù)支持。

• 通用光譜分析：廣泛應用于光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析等各類光學實驗與在線過程控制。

總而言之，奧譜天成ATP3330/ATP5330制冷型超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀以其超高的分辨率、優(yōu)異的信噪比和緊湊的設計，成功實現(xiàn)了高性能、高可靠性與低成本的良好平衡，為光譜技術(shù)從實驗室走向在線、便攜和嵌入式應用提供了強有力的核心組件。